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光電綜合測試系統(tǒng) Comprehensive Photoelectricity Test System |
光電綜合測試系統(tǒng) Comprehensive Photoelectricity Test System
理航光電LAEROX?的LA-SP-CPT系列光電綜合測量系統(tǒng)，對(duì)各種光電探測器、光電轉(zhuǎn)換材料、半導(dǎo)體材料等進(jìn)行綜合光電測量，可以測試樣品的光譜響應(yīng)、頻率或時(shí)間響應(yīng)、線性、噪聲、暗電流、電流電壓IV特性分析等等。特別適合科研、工業(yè)、分析測試等各個(gè)領(lǐng)域，可作為光電材料或器件全方位的分析測試平臺(tái)。
產(chǎn)品應(yīng)用 Applications
★科學(xué)研究（光電功能材料、半導(dǎo)體材料、光電轉(zhuǎn)換材料、光電器件、光電探測器等）
★半導(dǎo)體封測 （如二極管、齊納二極管、LED、激光二極管 ，BJT、MOSFET、SIC、GaN等 ， IC芯片 ）
★納米材料與器件（石墨烯、碳納米管、納米線等）
★能量效率與照明 （如LED/AMOLED ；光伏/太陽電池 ；電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等）
★材料特性分析(如電阻率，霍爾效應(yīng)）
★無源元器件、傳感器(如 電阻器、變阻器、熱敏電阻、開關(guān)；光電傳感器、傳感器等)
★有機(jī)材料與器件(如電子墨水、印刷電子技術(shù)等）
主要規(guī)格及特色 Features&Benefits
★測量光譜范圍廣，覆蓋了紫外、可見、近紅外和中遠(yuǎn)紅外光譜范圍：185nm~22um
★針對(duì)微弱光信號(hào)和電信號(hào)進(jìn)行探測
★測量電流范圍寬：1pA~10A
★光強(qiáng)分辨率高達(dá)1pW
★高頻率光信號(hào)，可測量200MHz頻率響應(yīng)
★擴(kuò)展接口豐富，可以與LAEROX的各種光源、激光器、光譜儀器、顯微鏡等連用
★高通光效率光路設(shè)計(jì)
★超大測試屏蔽暗箱
★低噪聲電路
產(chǎn)品參數(shù)Specifications
產(chǎn)品型號(hào) Model | LA-SP-CPT-XY Series (X is Wavelength Range, Y is Special Parameters) |
測量內(nèi)容 Measurement | 光電綜合測量 |
時(shí)間響應(yīng) Time Response | fs,ps,ns,μs,ms（可選） |
頻率響應(yīng) Frequency Response | DC~200MHz(可選）； |
激光波長 Laser Wavelength Range | 200nm~11um（可選其中某個(gè)或幾個(gè)單一波長）； 常用激光波長：266nm,355nm, 375nm，405nm，532nm，520nm，660nm，808nm，980nm； |
LED光源波長范圍 LED Light Source Wavelength Range | 200~4600nm（（可選其中某個(gè)或幾個(gè)單一波長）；） |
測試光學(xué)通道 Incident Light Port | 2~4（可選) |
測試光路 Light Path | 多光源可切換光路 |
偏置電壓 Bias Voltage | 1.5~15V(可選） |
樣品尺寸 Sample Dimensions | 測試樣品宏觀尺寸：1mm~300mm； 測試樣品圍觀尺寸: nm或 um |
樣品類型 Sample Type | 光電探測器、太陽能電池、半導(dǎo)體材料、光電材料等等 |
樣品臺(tái) Sample Stage | 樣品臺(tái)可以可裝卡各種尺寸的固體、液體樣品 真空吸附樣品臺(tái)可以裝卡1英寸到12英寸硅片； |
超大屏蔽測試暗箱尺寸 Large Test Chamber | 900mm*800mm*900mm |
連續(xù)可調(diào)光源模組 Tunable Light Source | 可配套理航光電LAEROX的LA-SP-MON連續(xù)可調(diào)單色光源系統(tǒng)使用 |
衰減片組 Neutral Density Filters | 各種透射率可供選擇，透射率范圍：0.1%~90%(可選）, 比如 OD0.3,0.5,1.0,1.5,2.0,2.5,3.0等等或0.1%，1%，5%，10%，20%,30%，40%，50%，60%，70%，80%，90%等 |
觀察顯微鏡 Microscope | 光學(xué)顯微鏡或顯微相機(jī)觀察系統(tǒng)（可選） |
IV檢定測量和特性分析 IV Test | 漏電、低電壓/電阻、LIV、IDDQ I-V特性分析、隔離和印制線電阻 溫度系數(shù)、正向電壓、反向擊穿、漏電流 直流參數(shù)測試、直流電源 HIPOT 絕緣耐壓測試序列舉例等 |
測量最大電流 Maximum Current | 1A~3A(NC，可選) 3A~10A(HC,可選) |
測量最大電壓 Maximum Voltage | 20V，200V，1100V（可選） |
測量電流電壓分辨率 Current and Voltage Resolution | 1pA / 100nV |
信號(hào)調(diào)制源 Modulation Source | 0~20MHz |
高精度光強(qiáng)校正 Optical Power Calibration | 1pW超高分辨率，另外有10pW~1uW可選； |
可選功能模塊Optional Functional Module
理航光電LAEROX?提供了各種光電測試功能模塊，以下表格中的功能模塊可以根據(jù)實(shí)驗(yàn)測試需要選擇其中一個(gè)或多個(gè)。詳細(xì)配置方案也可以咨詢我司專業(yè)的光電工程師。
產(chǎn)品測試項(xiàng)目 Product Name | 產(chǎn)品型號(hào) Model | 產(chǎn)品參數(shù) Specifications |
時(shí)間和頻率響應(yīng)等綜合測試 Comprehensive Time Response and Frequency Test | LA-SP-CPT-CTR系列 | LA-SP-CPT-TR系列時(shí)間和頻率響應(yīng)等綜合測功能模塊； 時(shí)間響應(yīng)：fs,ps,ns,μs,ms（可選） 頻率范圍：DC~20MHz（可選）；DC~200MHz(可選）； 激光波長：200nm~11um（可選）； 常用激光波長：266nm,355nm, 375nm，405nm，532nm，520nm，660nm，808nm，980nm； 測試通道：2~4（可選) 光路：可切換； |
光譜響應(yīng)、量子效率和IPCE等測量 Spectral Response and QE Spectrum Test | LA-SP-SR系列 | LA-SP-SR系列光譜響應(yīng)和量子效率測量系統(tǒng) 測量光譜范圍：185nm~22um 分辨率：0.03~10nm（可選） 電偏置：可選配； |
動(dòng)態(tài)范圍和線性測量 Dynamic Range and Linearity Test | LA-SP-CPT-DR系列 | LA-SP-CPT-DR系列動(dòng)態(tài)范圍和線性測量功能模塊； 可測量光信號(hào)動(dòng)態(tài)范圍：fw~mW； LED光源波長范圍：200~4600nm（可選） 激光波長范圍：200~11um(可選)； 常用波長：266nm,355nm,375nm，520nm，780nm等等； 光強(qiáng)可連續(xù)調(diào)節(jié)； |
等效噪聲功率和暗電流測試 NEP Test | LA-SP-CPT-NEP系列 | LA-SP-CPT-NEP系列等效噪聲功率測量功能模塊； NEP直接測量； 暗電流測量； |
溫度特性測量 Temperature Characteristic of Dark Current and Sensitivity | LA-SP-CPT-TEP系列 | LA-SP-CPT-TEP系列溫度特性測量功能模塊； 測量探測器的暗電流和靈敏度隨溫度的變化特性； 可配套LA-SP-SR系統(tǒng)測量低溫下的光譜響應(yīng)曲線； 溫度范圍：-30℃~500℃ 或 4K~800K(可選） |
顯微光譜響應(yīng)測試 Micro Spectral Response Test | LA-SP-CPT-MIC系列 | LA-SP-CPT-MIC系列顯微光譜響應(yīng)測試功能模塊； 樣品尺寸：納米nm或微米u(yù)m尺度樣品 光學(xué)顯微鏡主機(jī)、光源和CCD相機(jī)； 顯微物鏡：20X，50X，100X 可配套LA-SP-SR光譜響應(yīng)系統(tǒng)使用； 可以配套LA-SP-M系列光譜儀和單色儀使用； |
探針臺(tái)IV電流電壓測試 Probe Station IV Test | LA-SP-CPT-PROB系列 | LA-SP-CPT-PROB系列探針臺(tái)測試功能模塊； 專用常規(guī)探針臺(tái)或真空探針臺(tái)； 配套顯微觀察系統(tǒng)； 超大屏蔽測試暗箱:900*800*900mm3 測試樣品宏觀尺寸：1mm~300mm； 測試樣品圍觀尺寸: nm或 um 探針和精密位移臺(tái)數(shù)量：1~4（可選); 精密位移調(diào)節(jié)：Tx：13mm；Ty:13mm;Tz:13mm（另外有25mm位移可選）； 靈敏度：1~2um（另外有更高靈敏度的nm位移臺(tái)可選） 精密源表等IV測試設(shè)備； 擴(kuò)展光學(xué)接口 |
注意事項(xiàng)：
1，表格中的參數(shù)為整個(gè)系列的參數(shù)，具體型號(hào)的具體參數(shù)根據(jù)以我司銷售工程師提供的正式報(bào)價(jià)表格為準(zhǔn)。
2，其他特殊參數(shù)或需求歡迎來電咨詢，我司可提供定制化服務(wù)，并可提供系統(tǒng)應(yīng)用解決方案。
注意: 由于持續(xù)的產(chǎn)品改進(jìn)，本手冊(cè)中的技術(shù)參數(shù)一直在更新中。如需要最新產(chǎn)品資料手冊(cè)和報(bào)價(jià)單，請(qǐng)聯(lián)系我司的光學(xué)工程師。聯(lián)系電話：+86-15928606469； 聯(lián)系微信：15928606469；電子郵箱：laerox@139.com
